High Voltage 2KV THB Board

#SRD - SEMICONDUCTOR RELIABILITY DIVISION #Other #ST Microelectronics

Scheda per prove di affidabilità THB (Temperature Humidity Bias) per dispositivi High-Voltage Smart Power

PRODOTTO REALIZZATO PER PROVE IN TEMPERATURA E UMIDITÀ AD ALTA TENSIONE PER DISPOSITIVI A SEMICONDUTTORE

Board formato 150x500 mm. La scheda permette di stressare allo stesso modo molteplici posizioni DUT (Device Under Test) per prove in condizioni statiche ai massimi parametri dichiarati sul datasheet (AMR/MOV) in ambiente ad alta temperatura max 150°C e umidità 85%.    Il Design è realizzato per stress High Voltage fino a 2000V. 
Possibilità di aggiungere condizionamenti esterni (stimoli) per comunicare con il dispositivo e monitorarne il comportamento.

 

 

2BiTS si è occupata di:

  • Progettazione Schematico + Layout
  •  Produzione e Assemblaggio PCB
  • Verifica CQ
  • Debug
  • Supporto attività Start Trial on-site
  • Supporto post-vendita

 

 

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